SPM-8000阵列光谱仪
制冷型高精度光测量的典范
产品介绍
SPM-8000 阵列光谱仪基于久经考验的交叉 Czerny-Turner 光谱仪，并配备具有制冷恒温的 CCD 探测器，具有超过灵敏度和稳定性，可适用低辐射能量的光源。与翊明科技的配件搭配组合，可以将光谱仪升级为一体化系统，适用于各种光谱辐射和光度测量任务。
技术特点
- 200 – 1100 nm 都有相应型号
- 具有制冷功能的"薄型背照式"探测器，极小暗电流
- 高杂散光抑制
- 10 ms 至 65 s 的积分时间
- 配备专业的光谱软件
- 高精度测量，标准色度坐标上仅 ±0.0015 的可追溯测量不确定性
应用领域
面向 LED、照明设备或显示屏的一体化系统。SPM-8000 是光色测试系统解决方案中的重要测量仪器。辅以功能强大的系统软件、积分球、和广泛配件，可以完成所有电光源产品的光辐射测量，及其简便地得到相对光谱功率分布、色品坐标、色温、显色指数、色容差、峰值波长、半宽度、光通量（配积分球）等参数。
测试参数
| 型号 | UV/VIS | UV/VIS/NIR | VIS | VIS/NIR |
|---|---|---|---|---|
| 光谱范围 | 200-800 nm | 200-1050 nm | 360-830 nm/380-800nm | 380-950 nm |
| 光谱分辨率 (70 µm 狭缝) | 3.0 nm | 3.7 nm | 2.2 nm | 3.0 nm |
| LED 的杂散光 | 1·10⁻⁴ | 1·10⁻⁴ | 1·10⁻⁴ | 1·10⁻⁴ |
| 波长测量精度 | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm |
