PTFE积分球

产品介绍

PTFE积分球采用≥98.5%高品质PTFE材料高温烧结成型，适用于紫外-可见-近红外光谱，拥有近乎完美的朗伯体特性，涂层性能稳定，持久耐用，可以保证积分球在使用周期中始终保持理想的光学效果。经过特殊工艺改性、铸模，再机械加工成球壳形，最后经抛光、清洗而成，其最大优点是涂层壁厚，永不脱落。可搭配光谱仪、光纤、光源以及各种光学等测量设备组合成一个系统进行各种样品测量，例如实现光谱功率测量、样品表面反射率、样品透过率、光源辐射等。PIS-50 PTFE积分球通常用于晶圆探测和芯片测试，PIS-100 PTFE积分球则用于单芯片或多芯片测试。实验室中也常将PTFE积分球用于红外和紫外的实际产品开发。

技术特点

• 紫外和红外测量的完整系统解决方案
• 超灵敏测量范围从200 nm到2500 nm
• 高反射性PTFE材料，确保在紫外和红外等关键波段的高光学通量
• 从紫外到红外的精确辐射测量

应用领域

可搭配光谱仪、光纤、光源及各种光学测量设备组成系统，实现光谱功率测量、样品表面反射率、透过率、光源辐射等。PIS-50 常用于晶圆探测和芯片测试，PIS-100 用于单芯片或多芯片测试。实验室中常用于红外和紫外的产品开发。